激光鈾分析儀,激光測(cè)鈾儀,冷原子熒光測(cè)汞儀,麩星測(cè)定儀,米膠長(zhǎng)度測(cè)定箱,降落值測(cè)定儀,面筋測(cè)定儀,面筋儀,圓形驗(yàn)粉篩,油脂煙點(diǎn)儀,油脂煙點(diǎn)測(cè)定儀,白度計(jì),降落數(shù)值測(cè)定儀,磁性金屬物測(cè)定儀,微量鈾分析儀,面包體積測(cè)定儀,啤酒飲料二氧化碳測(cè)定儀

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谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)

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產(chǎn)品名稱: 谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): GE-XP
產(chǎn)品展商: 杭州大吉光電儀器有限公司
關(guān)注指數(shù):2510
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簡(jiǎn)單介紹

GE-XP谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)應(yīng)用圖像自動(dòng)分析系統(tǒng)測(cè)定谷物雜質(zhì)和不完善粒的檢測(cè)設(shè)備。適用于各類谷物的檢測(cè)。該系統(tǒng)集計(jì)算機(jī)技術(shù)與圖像處理技術(shù)于一體,通過CCD攝像機(jī)、進(jìn)料機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和出料機(jī)構(gòu)以及圖像自動(dòng)采集系統(tǒng)

谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)

   的詳細(xì)介紹

GE-XP谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)應(yīng)用圖像自動(dòng)分析系統(tǒng)測(cè)定谷物雜質(zhì)和不完善粒的檢測(cè)設(shè)備。適用于各類谷物的檢測(cè)。該系統(tǒng)集計(jì)算機(jī)技術(shù)與圖像處理技術(shù)于一體,通過CCD攝像機(jī)、進(jìn)料機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和出料機(jī)構(gòu)以及圖像自動(dòng)采集系統(tǒng),經(jīng)圖像處理和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分類算法,達(dá)到對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)麥、破損麥和異種糧霉變糧的自動(dòng)識(shí)別。

主要性能指標(biāo):
        1. 稻谷:未熟粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%
        2. 小麥:破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%
        3. 玉米:破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒、熱損傷粒。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%
        4. 大米:堊白粒率、粒型、黃粒米、堊白度。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%

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